葉面積指數(shù)是西瓜產(chǎn)量的保證

葉面積指數(shù)（leaf area index,LAI）反映了植物葉面的數(shù)量變化,即一株植物葉的表面積與土地表面積的比率,能定量描述群體水平上葉子的生長和葉子密度的變化,作為群體生長分析的參數(shù),為植物群體和群落生長的定量分析提供了途徑。西瓜豐產(chǎn)首先要從提高葉面積指數(shù)入手，包括每株西瓜倒底要留多少片葉、主蔓長度應該控制在多少。通過計算西瓜的葉面積指數(shù)，我們能夠給出一個如何提高西瓜產(chǎn)量的建議方案。

葉面積指數(shù)又叫葉面積系數(shù)，是一塊地上陽光直射時作物葉片垂直投影的總面積與占地面積的比值。即：葉面積指數(shù)=投影總面積/占地面積。由此可見，葉面積指數(shù)的基礎是葉片面積。葉片面積的測定，我們需要用到特定的儀器，或者傳統(tǒng)的測定方法。其中活體葉面積測定儀是現(xiàn)今大力推廣的方法，因為活體葉面積測定儀能夠測定任何大小面積的儀器，而便攜式葉面積測定儀也能夠測定葉片面積，但是它有很大的局限性，而且測定精度也不是很高。對于實際工作中需要測定的葉片面積，我們需要根據(jù)實際情況，來選擇合適的葉面積測定儀。

葉面積指數(shù)為植物冠層表面物質、能量交換的描述提供結構化的定量信息,是估計植物冠層功能的重要參數(shù),也是生態(tài)系統(tǒng)中zui重要的結構參數(shù)之一。葉面積指數(shù)的測定方法有多種,通過系數(shù)法間接測定西瓜葉面積,再計算葉面積指數(shù)。這不僅能大大提高工作效率,而且葉片勿需離體,這對研究西瓜葉面積指數(shù)的動態(tài)變化具有重要意義。但由于西瓜品種不同,葉片的形態(tài)特征不一,不能用統(tǒng)一的回歸方程或系數(shù)測算。因此,建立不同西瓜品種葉面積與葉長和葉寬之積統(tǒng)一的相關性模型,以指導實際生產(chǎn),將是下一步研究的內容。當然，積極研究葉面積測定儀，提高儀器測定效率和精度，也是我們需要努力的地方。植物產(chǎn)量形成zui基本因素是生長期間可能接受的光能量及光能的利用率。葉面積大,接受光的能量多,對光能的利用率也就高,因此在一定范圍內,葉面積的增加與產(chǎn)量形成的關系是正相關。

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